高溫四探針電阻率測試儀廠家 ； ；高溫四探針電阻率測試儀廠家
一.概述：
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制，解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線圖譜，及過程數據值的報表分析.
二.適用行業：:
用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據.
雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國A.S.T.M標準。
三.型號及參數：
規格型號 | |
1.方塊電阻范圍 ； | 10^-5～2?10^5Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10^-6～2?10^6Ω-cm |
3.測試電流范圍 | 0.1μA.μA.0μA，100?A，1mA，10mA，100 ；mA |
4.電流精度 | ?0.1%讀數 |
5.電阻精度 | ≤0.3% |
PC軟件界面 | 顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率 |
7.測試方式 | 雙電測量 |
8.四探針儀工作電源 | AC 220V?10%.50Hz ； ；<；30W ； |
9.誤差 | ≤3%（標準樣片結果 |
10.溫度(選購) | 常溫--200；400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃ |
11.氣氛保護（氣體客戶自備） | 常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無色、無臭、氣態的單原子分子 |
12.溫度精度 | 沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：?1?C |
13.升溫速度： | 常溫開始400℃--800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘 |
14.高溫材料 | 采用復合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征 |
15.PC軟件 | 測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數據！ |
16.電極（探針）材料標配 ； | 鎢電極或鉬電極 電極（探針）陶瓷管 ； 高溫陶瓷樣品臺，1套. |
17.探針間距 | 直線型探針，探針間距：4mm； |
18.樣品要求 | 樣品長度要求≥13mm ；樣品寬≥2mm或直徑≥13mm |
19.高溫電源： | 供電：400-1200℃ 電源220V，功率2-4KW；380V；1400℃-1600℃電源380V；功率4-6KW： |
20.標配外（選購）： | a電腦和打印機1套；b.標準電阻1-5個； c.S型鉑銠探針電極（溫度范圍：200-1300度）； d.B型鉑銠探針電極（溫度范圍：1400-1600度） |
特點：
●電阻最?精度：0.01%，最小分辨率0.1uΩ；
●方電阻精度：1%，最小分辨率：0.1uΩ；
●雙電測原理，提?精度和穩定性；
●測試探頭直排和矩形可選；
●標配RS232、LAN、IO、通訊接?；
●可配戴軟件查看和記錄測試數據；
；
高溫塑料薄膜電阻率測定儀
首先和提到儀器的工作溫度范圍通常是0-40℃，但用戶要的是高溫測定儀。儀器標注了"高低溫"測試能力，雖然具體溫度值沒寫，但既然能叫高低溫測試儀，應該能滿足基本高溫需求。
技術參數方面，這些儀器共性很強：電阻測量范圍都在10^4到10^18歐姆（見），測試電壓標配多檔位（10V-1000V可調），精度普遍在1%-5%之間。特別注意到的BEST-212型用了觸摸屏，操作可能更便捷。
用戶可能需要關注測量標準。和都強調符合GB/T 1410-2006和ASTM D257標準，這對出具權威報告很重要。
另外所有儀器都提到要配合專用電極夾具（），買的時候別忘了確認薄膜夾具是否另購。
以下是針對高溫塑料薄膜電阻率測定儀的關鍵信息匯總：
. . 核心功能要求
. 高溫測試能力 .
. 技術參數范圍 .
. 電阻測量 . ：覆蓋范圍廣（0.01?10 . Ω ~ 1?101 . Ω），滿足絕大多數絕緣材料測試需求。
. 測試電壓 . ：內置多檔直流電壓（10V/50V/100V/250V/500V/1000V），可自由切換。
. 精度 . ：基本準確度達?1%，高阻值段（>；1012Ω）誤差?20%以內。
. 電流檢測 . ：可測微弱電流（2?10 . . A ~ 1?10 . 1 . A）。
. . 測試標準與適用性
. 符合標準 . ：GB/T 1410-2006、ASTM D257，適用于防靜電產品（鞋、橡膠制品）、絕緣材料及電子器件的電阻檢測。
. 試樣要求 . ：需搭配專用電極夾具，薄膜類試樣直徑建議>；100mm（不足需定制電極）。
. 用戶選擇適合的高溫塑料薄膜電阻率測定儀。這個問題涉及專業設備選型，得仔細分析搜索結果的各項參數和功能。
關于測量原理，不同方法各有優劣：三電極法符合GB/T 10518標準，適合絕緣材料；四探針法對薄膜類更精準但要求樣品平整。
技術參數方面有幾個重點：電阻范圍需覆蓋10 . ~101 . Ω，電流檢測要低至10 . 1 . A。電壓檔位最好有10-1000V多檔調節，精度方面高阻值段(>；1012Ω)允許?20%誤差是行業常態。
使用便捷性也不能忽視。試樣處理環節很重要，直徑小于100mm可能需要定制電極。
特別提醒用戶注意多數設備環境溫度限值40℃，真正的"高溫"功能需單獨確認，比如三環電極法的真空加熱系統。
最后想到兩個易遺漏點：一是電阻測試必須配合高溫試驗臺使用；二是表面電阻和體積電阻的測量順序不能顛倒。這些實操細節要在建議里強調。
根據高溫塑料薄膜的測試需求（溫度適應性、測量精度、樣品兼容性等），以下是選型要點：
. 一、核心選型要素 .
. 測量原理與精度 .
. 三電極法 . ：符合 . GB/T 10518-2006 . 標準，適合絕緣材料高溫電阻率測試。
. 四探針法 . ：適用于薄膜類材料，可測方塊電阻和電阻率，支持溫度-電阻曲線分析。
. 電阻范圍 . ：至少覆蓋 . 10 . ~101 . Ω . ，高阻值段（>；1012Ω）誤差需≤?20%。
. 樣品兼容性 .
. 夾具要求 . ：薄膜樣品直徑應≥100mm（不足需定制電極）。
. 測試方式 . ：表面電阻與體積電阻需分開測量，且必須先測表面電阻。
. 二、推薦對比 .
. . 溫度范圍 . . 測量原理 . . 關鍵優勢 . . 適用標準 .
. -160℃~500℃三電極法支持介質損耗/介電常數測試，控溫精度?0.5℃GB/T 1409、ASTM D150
. 高溫真空/氣氛環境三環電極法鉑導線防信號衰減，觸摸屏操作便捷GB/T 10518、ASTM
高溫箱集成四探針法自動繪制溫度-電阻率曲線，適合導電薄膜分析半導體材料標準
. 未明確高溫范圍11通用法觸控操作，支持固體/液體/薄膜， ； ；GB/T 1410、ASTM D25711
.
. 三、操作注意事項 .
. 試樣預處理 . ：確保薄膜表面平整、無損傷，避免雜質干擾。
. 環境控制 . ：多數儀器工作環境為0℃~40℃ . . . ，高溫測試需外接溫控設備。
. 數據校準 . ：定期校驗儀器，高阻值（>；1012Ω）段需重點驗證精度。
什么是電阻率 .
電阻跟導體的材料、橫截面積、長度有關。
導體的電阻與兩端的電壓以及通過導體的電流無關。
導體電阻跟它長度成正比，跟它的橫截面積成反比．
說明
①電阻率ρ不僅和導體的材料有關，還和導體的溫度有關。在溫度變化不大的范圍內，幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化，即ρ=ρo(1 at)。式中t是攝氏溫度，ρo是O℃時的電阻率，a是電阻率溫度系數。
②由于電阻率隨溫度改變而改變，所以對于某些電器的電阻，必須說明它們所處的物理狀態。如一個220V
100W電燈燈絲的電阻，通電時是484歐姆，未通電時只有40歐姆左右。
③電阻率和電阻是兩個不同的概念。電阻率是反映物質對電流阻礙作用的屬性，電阻是反映物體對電流阻礙作用的屬性。
電阻率的測量方法和精度
1、方法：測量高電阻常用的方法是直接法和比較法.
直接法是測量加在試樣上的直流電壓和流過試樣的電流而求得試樣電阻.直接法主要有檢流計法和直流放大法（高阻計法）比較法主要有檢流計法和電橋法.
2、精度：對于大于10的10Ω的電阻，儀器誤差應在?20%的范圍內；對于不大于10的10Ω的電阻，儀器誤差應在?10%的范圍內.
3、保護：測量儀器用的絕緣材料一般只具有與被測材料差不多的性能.試樣的測試誤差可以由下列原因產生：
①外來寄生電壓引起的雜散電流通渠道.通常不知道它的大小，并且有漂移的特點；
②測量線路的絕緣材料與試樣電阻標準電阻器或電流測量裝置的并聯.
高溫塑料薄膜電阻率測定儀恒溫范圍選擇方法
鉑薄膜RTD最高可測850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了這么高溫度。這說明恒溫范圍選擇要先考慮材料耐溫性，而非儀器極限值。比如聚酰亞胺薄膜通常不超過400℃，而PE薄膜測試溫度可能只需80-120℃。
需要分三個維度建議：材料特性（分解溫度/相變點）、測試目的（質量控制/科研）、環境要求（氣氛保護）。尤其要提醒用戶注意GB/T 1410標準中要求的預處理溫度和時間，這些都會影響恒溫范圍設定。
選擇高溫塑料薄膜電阻率測定儀的恒溫范圍需綜合材料特性、測試標準及儀器性能，具體方法如下：
；一、根據材料特性選擇材料耐溫上限 .
常見塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的軟化點通常為 . 200℃~400℃ . ，測試溫度應低于材料分解溫度 . 20~50℃ . ，避免形變或性能劣化影響數據準確性。
例如：聚酰亞胺（PI）薄膜建議恒溫范圍 . ≤350℃ . 。
. 相變點或玻璃化轉變溫度（Tg） .
測試溫度需覆蓋材料關鍵相變點（如Tg、熔點），例如研究導電薄膜時需包含 . 室溫~200℃ . 區間以觀察電阻率突變。
二、匹配測試標準與實驗目的標準規范要求 .
GB/T 10518-2006規定絕緣材料高溫電阻測試需在 . 100℃~500℃ . 范圍進行。
ASTM D257建議測試溫度至少比材料最高使用溫度高 . 25℃ . 。
. 功能需求 .
若需研究溫度-電阻率曲線，恒溫范圍應覆蓋 . 材料最低工作溫度至最高失效溫度 . （如 . -70℃~300℃ . ）。
僅需高溫點測試（如150℃質量控制），可選單點恒溫機型。
. . . 三、儀器性能關鍵參數
. 溫控范圍與精度 .
優先選擇寬溫域機型：如 . GDW-500 . （ . -160℃~500℃ . ）或 . HTIM-1000 . （真空/氣氛環境）。
控溫精度需 . ≤?0.5℃ . （如GDW-500），避免波動導致阻值漂移。
. 溫場均勻性 .
樣品區域溫差應 . <；?2℃ . ，確保薄膜受熱均勻。可通過紅外熱成像驗證設備溫場分布。
四、操作限制與風險規避
. 儀器工作環境約束 .
多數電阻率測試儀主機僅適應 . 0℃~40℃ . 環境，高溫測試需外接獨立溫控腔體（如GDW-500的液氮制冷系統）。
. 樣品預處理要求 .
高溫測試前需在目標溫度下恒溫 . ≥30分鐘 . ，消除熱歷史效應。
. . 選型推薦表
. 材料類型 . . 建議恒溫范圍 . . . . 關鍵優勢 .
. 通用塑料薄膜 . 室溫~300℃性價比高，操作簡便
. 耐高溫薄膜 . -70℃~500℃寬溫域，液氮制冷，精度?0.5℃
. 導電/半導體膜 . 真空環境~600℃鉑電極防氧化，支持氣氛控制
. 注 . ：極端條件測試（如>；500℃）需定制設備，并確認電極材料（如鉑金）與夾具的耐溫性
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